電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)的變形試驗(yàn)是指各種載荷作用下變形構(gòu)件的時(shí)間、空間形狀、大小、位置發(fā)生變化。變形監(jiān)測(cè)也稱為變形測(cè)量或變形觀測(cè)，變形測(cè)量是對(duì)變形體上的觀測(cè)點(diǎn)進(jìn)行周期性、重復(fù)的觀測(cè)，得到觀測(cè)點(diǎn)各周期相對(duì)于階段性點(diǎn)和高程的變化。

　　電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)的橫向變形試驗(yàn)主要有以下四點(diǎn)：

　　1 .變形測(cè)量技術(shù)參數(shù)：變形測(cè)量指標(biāo)參數(shù)包括測(cè)量范圍、示值誤差、靈敏度和分辨率。

　　2 .測(cè)量范圍---試驗(yàn)機(jī)通過(guò)測(cè)量系統(tǒng)測(cè)量的材料或部件的小尺寸之間的范圍。

　　3 .示值誤差---記錄或顯示試樣變形值的測(cè)量值與實(shí)測(cè)值之差稱為試驗(yàn)機(jī)測(cè)量系統(tǒng)的示值誤差。 指示誤差是不可避免的，其大小在規(guī)定范圍或基準(zhǔn)范圍內(nèi)。

　　4 .試驗(yàn)機(jī)變形測(cè)量靈敏度---靈敏度指示器相對(duì)于測(cè)量變化的位移率，靈敏度是測(cè)量物理儀器的一個(gè)標(biāo)志。試驗(yàn)機(jī)測(cè)量系統(tǒng)的靈敏度越高，測(cè)量結(jié)果的精度越高。

　　電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)變形測(cè)量的等級(jí)和精度取決于變形允許值和變形測(cè)量目的。目前認(rèn)為，如果觀測(cè)的目的是保證建筑物的安全，使變形值不超過(guò)某個(gè)允許值，則觀測(cè)中的誤差不應(yīng)低于允許變形值的1/10~1/20。如果觀測(cè)的目的是研究變形過(guò)程，觀測(cè)精度應(yīng)該更高。

　　電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)的變形測(cè)量是利用試驗(yàn)機(jī)監(jiān)測(cè)變形體的變化，該方法的目的是獲得變形子空間位置隨時(shí)間變化的特征，并根據(jù)結(jié)果調(diào)整相應(yīng)的結(jié)果。